| .::. MTS - pytania i odpowiedzi .::. |
|---|
| Strona ta powstała przy aktywnym udziale naszych obecnych i
przyszłych klientów, a także osób które są po prostu
zainteresowane badaniami wytrzymałościowymi. Mamy nadzieję,
że zawarte tutaj pytania i odpowiedzi przybliżą Państwu
produkty firmy MTS. Jeżeli istnieje jakieś pytanie, którego
nie można znaleźć na tej stronie to prosimy o kontakt - na pewno Państwu
odpowiemy. |
 |
|
P: Czy systemy badawcze firmy MTS współpracują z
komputerem?
O: Oczywiście. Zdecydowana większość pracuje z komputerami.
Pozwala to na łatwą obsługę i konfigurację systemu. |
|
P: Czy wśród systemów badawczych firmy MTS istnieją takie,
które nie wymagają współpracy z komputerem?
O: Tak. Mimo, iż większość systemów wykorzystuje komputer do
sterowania i konfigurowania systemu, to istnieją przykłady
systemy nie muszące pracować z komputerami, np. MTS 407
Controller. System ten oczywiście może, jako opcja,
współpracować z komputerem. |
|
P: Posiadam komputer klasy 486. Czy wystarczy on do pracy z
systemami badawczymi?
O: Trudno powiedzieć. Konfiguracją zalecaną przez firmę MTS
jest komputer z procesorem Pentium 166 MHz i 32 MB RAM.
Oczywiście każdy lepszy komputer (np. Pentium 266 MMX czy
Pentium II) również spełnia zalecenia. Na życzenie firma
dostarcza komputer wraz z systemem badawczym. |
|
P: Czy MTS oferuje również indywidualne podzespoły do
systemów badawczych? Czy z takich podzespołów mogę
skonstruować własne urządzenie badawcze?
O: Tak. Firma MTS oferuje pełną gamę sprzętu i podzespołów
do badań wytrzymałościowych. Mogą one stanowić cenne
uzupełnienie konstruowanych we własnym zakresie urządzeń
badawczych. |
|
P: Planuję badania w których konieczne będą trzy
niezależne osie wymuszeń. Czy takie badania są możliwe?
O: Oczywiście. Każda niezależna oś wymuszeń wymaga
oddzielnego siłownika. Systemy badawcze firmy MTS mogą
pracować z wieloma siłownikami (do 512 siłowników).
Dodatkowo, MTS jako jednyna firma oferuje pełną kontrolę nad
zależnościami amplitudowymi i fazowymi pracujących
siłowników (tzw. Phase-Amplitude Controll). |
|
P: Nasza firma planuje badania próbek gumowych z dużymi
częstotliwościami. Z jak dużymi częstotliwościami mogą
pracować systemy MTS?
O: Różne systemy mogą pracować z różnymi
częstotliwościami. Systemy do badań z próbkami gumowymi mogą
pracować z częstotliwościami większymi od 1000 Hz (tysiąc
herców). |
|
P: Z jakimi próbkami mogą pracować systemy badawcze MTS?
O: Praktycznie ze wszystkimi. Systemy badawcze MTS mogą
pracować z takimi próbkami jak:
- metal, stal, stopy
- guma
- włókna szklane
|
- asfalt
- elastomery
- laminaty
|
- beton
- kompozyty
- próbki skalne i gruntowe
|
|
|
P: Czy możliwe jest podpisanie kontraktu serwisowego z firmą
MTS?
O: Tak. Kontrakt taki przynosi klientowi szereg korzyści. Przede
wszystkim zapewnia całoroczną pomoc i obsługę stanowiska.
Każdy kontrakt serwisowy jest ustalany indywidualnie z każdym z
klientów. |
|
P: Posiadam stary system badawczy firmy Instron. Czy MTS
posiada możliwości unowocześnienia tej maszyny?
O: Tak. Systemy sterowania maszynami wytrzymałościowymi firmy
MTS mogą być wykorzystane do unowocześniania systemów
badawczych wszystkich wytwórców. Co więcej, zdarza się, że
firma wygrywa przetargi na modernizację systemów badawczych
innych firm. |
|
P: Potrzebuję przeprowadzić badanie na propagację
pęknięcia. Czy takie badanie jest możliwe na systemach MTS?
O: Tak. Oprócz prostych, tradycyjnych badań takich jak badanie
wytrzymałości na ściskanie, rozciąganie czy skręcanie, firma
MTS oferuje szereg zaawansowanych badań, takich jak:
- propagacja pęknięcia (FCG - Fatigue Crack Growth)
- zmęczenie niskocyklowe (LCF - Low-cycle Fatigue)
- zmęczenie wysokocyklowe (HCF - High-cycle Fatigue)
- oraz wiele innych
|
|
P: Moje badanie wymaga pracy stanowiska przez 24h na dobę.
Czy jest to możliwe?
O: Tak. Urządzenia badawcze firmy MTS posiadają rozbudowane
systemy zabezpieczeń, co pozwala na bezobsługowe działanie
stanowiska przez długi czas. Dzięki systemom zabezpieczeń
nawet w przypadku uszkodzenia próbki lub awarii systemu
badawczego nie dochodzi do uszkodzeń elementów systemu
(czujników, osprzętu badawczego). |
|
| Do góry strony |
